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半導體測試探針的的原理

時間:2021.03.17    瀏覽527次

半導體測試探針(高頻探針)主要應用于BGA芯片測試,微型BGA原件,測試架,手機,電腦,通信等;其應用評率為500MHz,測試中所采用的針的數(shù)量根據(jù)具體的BGA IC 與其治具的規(guī)格不同而不同, 測試治具的間距有0.4/0.5/0.65/0.75/1.0/1.27/2/2.54MM不等。


半導體測試探針(高頻針)主要應用行業(yè)如:手機、電腦、通信等。主要芯片的行業(yè)幾乎都被推行使用半導體測試探針進行,主要需求量最大需芯片封裝測試行業(yè)。